TD8160 单片非晶磁性测量系统

1. 产品概述
TD8160**于测量非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性的装置，由励磁及精密测量装置、单片磁导计、全自动测量软件组成测量频率（40 Hz～65 Hz，可定制至400 Hz）。使用该装置可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面*优化您的产品。参照标准：GB/T 19345.1(较新修订版，天恒测控参与起草)。
2.主要应用
●被测材料种类：主要为非晶?/?纳米晶合金薄片、也可适用于测量其他软磁材料。
●主要测量方法：单片样磁场测量兼容国际主流的方法：M.C法和H-Coil法。
●被测样品尺寸：W ( 10～215 ) mm × L ( 280～320 ) mm，T：10 μm～500 μm。
●测量电学参量：电压、电流、功率、频率、相位、功率因数、谐波等。
●测量磁性参量：磁通密度B、磁场强度H、磁较化强度J、比总损耗Ps、比视在功率Ss
 饱和磁通密度Bs、矫顽力Hc、磁导率、波形因数等。
●绘制磁性曲线：磁化曲线、磁滞回线等；可切换多种磁测量单位。
3.功能特点
●可选配**的校准模块和校准转接头，通过高等级的电压表、电流表、功率表对装置进行校准。
●样品的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。
●标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。
●单片磁导计采用双磁轭结构，可实现磁轭退磁和样品退磁。
●配备专业软件，除放置样品和设置参数外，整个测试过程可全自动完成。
●软件操作简便，且具有强大的数据管理功能，方便查看历史数据和报告导出。
●励磁源与测量装置采用模块化设计，方便升级和维修。
4.系统应用结构图
5.磁参量测量范围
测量条件：
T：（23 ± 5）℃；试验开始之前，本装置应进行30分钟以上的预热。
试样放置于测定框内，在多次测量过程中，样品应不再被移动；测量次数：3～10次。
重复性={[(较大值-较小值)÷2]÷平均值}×**。
准确度一般指一年内系统的测量值与标准值的较大允许误差。
6.单片磁导计
7.全自动测量软件
8.非晶测量特性简介
非晶带材，与取向硅钢带材相比，有以下特点：
●非晶带材的厚度很薄，一般为0.025 mm，只有取向硅钢带材的1/10左右。
●比总损耗很低，P1.5 / 50的典型值约为0.2 W/kg，该值是取向硅钢P1.7 / 50典型值的1/5左右。
●具有高磁致伸缩和低的磁各向异性，且易产生应力而使其磁性能恶化。
●还具有低矫顽力、高磁导率、低饱和磁感、高电阻率等特点。
●由上可见，在工频下测量非晶磁性能，宜采用单片磁导计进行测量(单片法)。
测量方法
●单片法是国际主流的非晶测量方法之一，如美标A932和日标H7152均早已提出了该方法；
 2014年IEC起草的标准，和我国2015年修订的GB/T 19345.1均提出了单片法测量非晶磁性能。
●单片法与环样法相比，其测量数据更能反映材料本身的磁特性，且省去了制样与绕线等复杂过程。
●由于铁基非晶带材的上述特点可见，单片法的技术要求和实现难度均很高；
与普通取向硅钢带材相比，对磁测设备的灵敏度要求高近100倍；
考虑到非晶带材试样很小，其磁性能检测设备的灵敏度要求更高。
●单片样磁场测量目前有两种方法：电流法(M.C)；磁场线圈法(H-Coil)。
●M.C法是电工钢单片检测IEC标准使用的一方法；
H-coil法是美日电工钢单片检测标准使用的方法之一，该方法对磁场测量的准确度更高；
但在磁导计的制作、微弱信号处理及干扰抑制、量值溯源等方面也有很高的要求。
●TD8160采用的单片磁导计为双磁轭结构，磁场测量兼容M.C法和H-coil法。
9.参与非晶国际比对
●2014.4～2015.8宝钢代表中国参加由IEC/TC68发起的铁基非晶带材单片磁性能测量的国际比对。
●使用的测试仪器即天恒研制的TD8160，在二轮的国际比对中，均取得了较好的测试结果。